人工晶狀體測(cè)試儀是一種用于測(cè)量人工眼晶體光學(xué)性能的設(shè)備。原理是利用非接觸式探頭，測(cè)量人工晶狀體的光學(xué)性能、散光、偏置度和屈光度等。設(shè)備的光源產(chǎn)生可見光和紅外光譜線，并通過(guò)光電二極管傳感器接收來(lái)自光學(xué)元件的反射和透過(guò)光，生成對(duì)應(yīng)參數(shù)的輸出信號(hào)并通過(guò)波形圖或數(shù)字值進(jìn)行顯示和分析。隨著生物醫(yī)學(xué)和老年化社會(huì)的發(fā)展，白內(nèi)障手術(shù)和替換人工晶狀體的需求越來(lái)越大，測(cè)試人工晶狀體質(zhì)量成為了非常重要的工作。它可以分為五個(gè)部分：其中包含了一個(gè)光源、樣品夾持裝置、物鏡、檢測(cè)器和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
 

　　光源：通常使用的是光纖光源，光源會(huì)對(duì)人工晶狀體產(chǎn)生光線，通過(guò)物鏡折射后匯聚到樣品上。
 

　　樣品夾持裝置：用于固定待測(cè)人工晶狀體。人工晶狀體通常是由透明材質(zhì)制成，如PMMA、PC、硅膠等，它們光學(xué)性能與天然晶狀體有很大差異。
 

　　物鏡：光線通過(guò)物鏡時(shí)可以集中到樣品表面上，并在樣品中反彈，這個(gè)過(guò)程中稱為全息干涉。
 

　　檢測(cè)器：一般采用CCD或CMOS技術(shù)的高靈敏度探測(cè)器，檢測(cè)干涉的光線。在人工晶狀體測(cè)試時(shí)，反射光匯聚不止一次。這產(chǎn)生了自發(fā)磷光和干涉光頻譜中復(fù)雜的含多個(gè)峰的性質(zhì).
 

　　計(jì)算機(jī)系統(tǒng)：通過(guò)接收CCD或CMOS檢測(cè)器檢測(cè)到的信號(hào)，在電腦上進(jìn)行分析處理，進(jìn)而得出樣品的光學(xué)參數(shù)。

 

　　人工晶狀體測(cè)試儀在具體操作過(guò)程中，先將待測(cè)人工晶狀體放置在夾持裝置上，然后啟動(dòng)整個(gè)系統(tǒng)。系統(tǒng)啟動(dòng)后，計(jì)算機(jī)開始運(yùn)行控制程序，向物鏡和光源發(fā)出指令，從而使光線聚焦并照射到樣品表面。由于人工晶狀體具有高度幾何對(duì)稱性，在光束經(jīng)過(guò)之后會(huì)反射并形成拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),形成特征的全息干涉圖像。這些反射光產(chǎn)生的光斑被檢測(cè)器捕捉并跟蹤，累計(jì)到一定時(shí)間后，計(jì)算機(jī)程序就可以形成與人工晶狀體相關(guān)的各類光學(xué)信息，包括反射率、折射率、散射等所需的參數(shù)方便后續(xù)醫(yī)學(xué)人員針對(duì)患者的眼度制定適合的人工晶狀體。